Бази даних

Реферативна база даних - результати пошуку

Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"

Вид пошуку
Сортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком видання
Формат представлення знайдених документів:
повнийстислий
 Знайдено в інших БД:Книжкові видання та компакт-диски (4)
Пошуковий запит: (<.>A=Гладких Л$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 4
Представлено документи з 1 до 4

      
Категорія:    
1.

Гладких Л. И. 
Дифракционные методы анализа внутренних напряжений. Теория и эксперимент : Учеб. пособие / Л. И. Гладких, С. В. Малыхин, А. Т. Пугачев; Нац. техн. ун-т "Харьк. политехн. ин-т". - Х., 2006. - 303 c. - рус.

Приведены основные сведения о дифракции рентгеновских лучей на кристаллах и применении методов структурного анализа для исследования остаточных макронапряжений в поверхностных слоях массивных материалов и тонких пленках. Изложены метод наклонных съемок и особенности его развития для изучения напряженного состояния в текстурированных и монокристаллических образцах. Освещены основные положения взаимодействия рентгеновских лучей с веществом, раскрыты основы электронографической тензометрии. Выполнен анализ ошибок при использовании рентгенодифрактометрических методик для измерения остаточных макронапряжений.


Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134 я73 + В251.1 я73

Рубрики:

Шифр НБУВ: ВА678216 Пошук видання у каталогах НБУВ 

      
Категорія:    
2.

Гладких Л. И. 
Остаточные напряжения и структура покрытий нитридов титана и хрома, полученных методом ионно-плазменного осаждения / Л. И. Гладких, С. В. Малыхин, А. Т. Пугачев, Е. Н. Решетняк, Д. Б. Глушкова, С. С. Дьяченко, Г. П. Ковтун // Металлофизика и новейшие технологии. - 2003. - 25, № 6. - С. 763-776. - Библиогр.: 23 назв. - рус.


Ключ. слова: тонкие пленки нитридов, рентгеновская дифрактометрия, структура, остаточные напряжения, текстура
Індекс рубрикатора НБУВ: К663.033.057.2-18

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 



      
Категорія:    
3.

Ажажа В. М. 
Квазикристаллы Ti - Zr - Ni: структура, нанодеформирование, электросопротивление и диффузия водорода / В. М. Ажажа, С. Н. Дуб, А. Н. Гриб, Б. А. Мерисов, Г. Я. Хаджай, С. В. Малыхин, А. Т. Пугачев, Л. И. Гладких // Вісн. Харк. нац. ун-ту. Сер. Фізика. - 2006. - N 739, вип. 9. - С. 103-107. - Библиогр.: 19 назв. - рус.


Індекс рубрикатора НБУВ: К235.16 + В37

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж29137 Пошук видання у каталогах НБУВ 



      
Категорія:    
4.

Гладких Л. И. 
Структурный анализ в физическом материаловедении : учеб. пособие / Л. И. Гладких, С. В. Малыхин, А. Т. Пугачев, М. В. Решетняк; Нац. техн. ун-т "Харьков. политехн. ин-т". - Харьков : Підручник НТУ "ХПІ", 2014. - 383 c. - Библиогр.: с. 369-370 - рус.

Изложены элементы кристаллографии, которая является азбукой для понимания всего материаловедения вообще и физического материаловедения в частности. Представлены основы физики рентгеновских лучей, необходимые для дальнейшего изучения специальных вопросов рентгеноструктурного анализа. Рассмотрены элементы теории рассеяния рентгеновских лучей на кристаллах. Сформулированы условия формирования дифракционных максимумов и распределение интенсивности в пространстве в зависимости от целого ряда факторов - множителей интенсивности. Приведены различные методики структурного анализа, направленные на решение ряда прикладных задач, с которыми материаловеды встречаются сравнительно часто.


Індекс рубрикатора НБУВ: В37 я73 + Ж3 я73

Рубрики:

Шифр НБУВ: ВА782419 Пошук видання у каталогах НБУВ 
 

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського